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XDIFFP

Empyrean serie III Multicore

Diffrattometro per polveri e films Empyrean serie III Multicore

Ditta Produttrice: Malvern-Panalytical  | Data di installazione: 2023  | Sigla dello Strumento: XDIFFP

Configurazione Strumentale
  • Tubo raggi X al Cu LFF HR (High Resolution) comprensivo di Beta filter al Ni
  • Generatore 4 kW con sistemi di sicurezza idonei a montare sorgenti a più alte energie (Mo e Ag)
  • Riconoscimento automatico di tutte le componenti
  • Moduli ottici iCore e dCore che assicurano il completo controllo via software di tutte le ottiche, sia sul fascio incidente che diffratto; questo consente di lanciare sequenzialmente misure variando i valori di slitte, maschere, etc.
  • Porta-campioni Culla di Eulero a 5 assi motorizzati Chi, Phi, X, Y, Z per misure specifiche di tessiture, film sottili e stress. La Culla di Eulero può essere usata come stage X, Y, Z ed è accoppiata ad una telecamera che inquadra il campione dall'alto; le coordinate del punto di misura sono gestite via software, consentendo la memorizzazione di un set di posizioni per analisi di campioni diversi, regolandone automaticamente l'altezza ottimale. Può analizzare campioni massivi con dimensioni massime di circa 100x100x10 mm
  • Sample changer automatico a 15 posizioni
  • Detector PIXcel3D allo stato solido (tecnologia Medipix3) per analisi 0D, 1D e 2D
  • Camera calda Anton Paar HTK1200, per studiare le trasformazioni e le cinetiche di trasformazione di strutture cristalline e non cristalline di materiali in polveri e/o massivi ad alta temperatura (fino a 1200°C). La camera ha il movimento verticale (asse Z) motorizzato, con correzione automatica dell'altezza durante la misura, e di rotazione
  • Portacampioni spinner per misure in riflessione e trasmissione
  • Misure con testa goniometrica di materiale in capillare

Applicazioni

La diffrattometria a raggi X si basa essenzialmente sulla legge di Bragg: 2dhklsenΘ = n*λ, dove dhkl è la distanza reticolare del piano con indici cristallografici hkl della fase in esame, Θ è l'angolo per cui il piano con indici hkl è in condizioni di diffrazione, λ è la lunghezza d'onda della radiazione utilizzata. Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione su diverse tipologie di campioni che spaziano da campioni mineralogici, metallici, polimerici, etc.

Permette il riconoscimento di fasi cristalline (analisi qualitativa) con la possibilità di utilizzare metodi Rietveld per ottenere dati quantitativi. La tecnica può essere utilizzata su sistemi monofase per la determinazione delle dimensioni dei grani.

  • Campioni mineralogici
  • Materiali semiconduttori
  • Campioni ceramici e metallici
  • Beni culturali
  • Trattamenti superficiali e film sottili
  • Principi attivi e i Eccipienti farmaceutici

Tecniche disponibili

  • Spettri XRD 0,1,2 D su polveri e su campioni massivi con dimensioni massime di 100x100x10 mm
  • Misure di tessiture, stress e su film sottili
  • Sample changer automatico per alloggiare fino a 15 campioni e lanciare misure sequenziali
  • Camera calda HTK1200, per misure ad alta temperatura su materiali in polveri e/o massivi purchè sia possibile inserirli nella vaschetta portacampione di forma circolare con diametro di 10 mm e spessore 1 mm
  • Misure in riflessione e trasmissione con portacampioni spinner e misure in capillare

Link interessanti

Downloads

  • Certificato dello standard NIST 640c
  • Certificato dello standard NIST 660a
  • Certificato dello standard NIST 676a
  • Introduction to X-ray Powder Diffraction
  • The Interaction of X-rays with Matter and Radiation Safety
  • Generation of X-Rays
  • Diffraction Basics
  • Diffraction Basics
  • Sample Preparation and Systematic Diffractometer Errors
  • Introduction Quantitative X-Ray Diffraction Methods
  • Free and Inexpensive Software Alternatives for X-ray Diffractionn

Staff Tecnico

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