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AFM

AFM Autoprobe CP

Microscopio a Forza Atomica AUTOPROBE CP

Ditta Produttrice: Veeco  - 2M Strumenti  | Data di installazione: 1995  | Sigla dello Strumento: AFM

Configurazione Strumentale
  • Scanner da 5 e 100 um
  • Cella per fluidi
  • Kit per misure magnetiche ed elettriche
  • Kit per misure in modulazione di forza e di fase
  • Microscopio ottico con telecamera colore per il posizionamento del campione
  • Tavolino antivibrante Newport serie SHP
  • Software di gestione PROSCAN DATA ACQUISITION per Windows 95

Applicazioni

Questa microscopia puo' essere impiegata su campioni solidi con rugosita' superficiale non superiore a qualche um. Possono essere osservati anche campioni immersi un un liquido.

  • Industria dei materiali (semiconduttori, magnetici, elettrici...)
  • Industria dei polimeri
  • Industria biomedicale

Tecniche disponibili

  • Contatto , NON Contatto , Tapping, Lateral force
  • Microscopia con forze magnetiche e di Surface Potential (Kelvin Probe)
  • Microscopia in modulazione di forza o di fase
  • Microscopia con Cella per liquidi

Link interessanti

Downloads

  • Manuale Veeco per misure di f_vs_d
  • Command Reference Manual
  • MultiMode SPM Instruction Manual
  • SPM Training Notebook Rev-E

Staff Tecnico

* Massimo TonelliContatta lo Staff
Mauro Zapparoli

*: Responsabile del Laboratorio