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AFM2

AFM Nanoscope III

Microscopio a Forza Atomica Multimode Nanoscope IIIa

Ditta Produttrice: Veeco  - 2M Strumenti  | Data di installazione: 2007  | Sigla dello Strumento: AFM2

Configurazione Strumentale
  • Controller Nanoscope IIIa
  • Scanner da 10x10 um con range verticale massimo di 2.5 micron
  • Cella per liquidi
  • Modulo Quadrex
  • Misure magnetiche e di Surface Potential (Kelvin Probe)
  • Misure in modulazione di forza e di fase
  • Misure di FvsD puntuali e mappature di durezza/elasticita'
  • Monoculare 45x
  • Software di gestione NANOSCOPE IMAGE v.5.31R1 per Windows XP

Applicazioni

Questa microscopia puo' essere impiegata su campioni solidi con rugosita' superficiale non superiore a qualche um. Possono essere osservati anche campioni immersi un un liquido.

  • Industria dei materiali (semiconduttori, magnetici, elettrici...)
  • Industria dei polimeri
  • Industria biomedicale

Tecniche disponibili

  • Contatto , NON Contatto , Tapping, Lateral force
  • Microscopia con forze magnetiche e di Surface Potential (Kelvin Probe)
  • Microscopia in modulazione di forza o di fase
  • Microscopia con Cella per liquidi

Link interessanti

Downloads

  • Manuale Veeco per misure di f_vs_d
  • Command Reference Manual
  • MultiMode SPM Instruction Manual
  • SPM Training Notebook Rev-E

Staff Tecnico

* Massimo TonelliContatta lo Staff
Mauro Zapparoli

*: Responsabile del Laboratorio