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ICPMS
ICPMS Xseries II CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia
SPETTROMETRO AL PLASMA ICP-MS X Series II
| Configurazione Strumentale |
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Applicazioni
Questa tecnica ? utilizzata principalmente per la determinazione di elementi in tracce in vari tipi di campioni, sia soluzioni provenienti da un attacco chimico che campioni solidi analizzabili tramite l'utilizzo di un sistemi di ablazione laser. I suoi principali vantaggi sono costituiti da limiti di rivelabilit? estremamente bassi (< ng/L), un ampio intervallo di linearit?, e la possibilit? di analisi multielemento in modo simultaneo.
Determinazione di elementi in tracce in matrici ambientali, alimentari, biologiche, geologiche
Tecniche disponibili
- Analisi quantitativa su soluzioni mediante curva di calibrazione esterna
- Analisi quantitativa su soluzioni mediante curva di calibrazione interna mediante metodo delle aggiunte standard
- Utilizzo di standard interno per compensare la variabilit? durante la misura e variazioni nella matrice del campione
- Analisi semiquantitativa su solidi mediante curva di calibrazione esterna basata su campoioni standard costituiti dalla stessa matrice del campione
- INORGANIC VENTURES IV-ICPMS-71A (soluzione)
- NIST 612 (solido)
- NIST 614 (solido)
Link interessanti
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- Standard NIST 612 (solido)
- Standard NIST 614 (solido)
- INORGANIC VENTURES IV-ICPMS-71A (soluzione)
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Downloads
- Brochure XSeriesII
Staff Tecnico
| * Daniela Manzini | Contatta lo Staff |
| Maria Cecilia Rossi | |
*: Responsabile del Laboratorio