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TEM

Microscopio Elettronico a Trasmissione JEM 2010 [200Kv]

Microscopio Elettronico a Trasmissione JEM 2010 [200Kv]

Ditta Produttrice: Jeol  - Oxford Instruments  | Data di installazione: 2001  | Sigla dello Strumento: TEM

Configurazione Strumentale
    Dismesso nel 2019 e sostituito da Talos F200S G2

  • Porta campioni a doppio Tilt
  • Porta campioni raffreddato a temperatura variabile
  • Catodo intercambiabile per filamento LaB6
  • GIF Gatan + Multiscan Camera 794
  • Software Digital Micrograph 3.1 su Win NT
  • Sistema per Microanalisi Oxford INCA 100
  • Telecamera Slow Scan CCD Gatan 694
  • Software Digital Micrograph 3.1 su MAC
  • Download tool per immagini DM3 (ImageJ 1.32J)

Descrizione della tecnica

La Microscopia Elettronica a Trasmissione ( TEM ) permette di ottenere,da un campione sufficientemente assottigliato (< 0.1 micron), immagini ad alta risoluzione ( 1.92 Å ) prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 200 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente ,tramite CCD su computer o su una pellicola fotografica. Le informazioni compositive sul campione possono essere ottenute utilizzando i raggi X prodotti (EDS) oppure gli elettroni trasmessi ( EELS ). La tecnica EELS su TEM puo' fornire immagini legate alla distribuzione di elementi chimici (mappe) in aree relativamente grandi.

 

Applicazioni generali

La tecnica trova applicazione sia in campo biologico (ad esempio nello studio di ultra strutture cellulari ) che nella scienza dei materiali per lo studio e la caratterizzazione di microfasi ed interfacce. Particolarmente importante soprattutto nel campo delle scienze dei materiali è la possibilità di ottenere informazioni sui parametri reticolari tramite esperimenti di diffrazione elettronica ed immagini ad alta risoluzione.

Applicazioni tecnologiche e industriali

  • Industria metallurgica
  • Industria biomedicale
  • Problematiche ambientali
  • Semiconduttori

Tecniche disponibili

  • TEM Immagini in campo chiaro e campo scuro in modo TEM
  • DIFF Diffrazione elettronica
  • EELS Spettroscopia elettronica per perdita di energia
  • IFTEM Filtro in energia per immagini sugli elettroni trasmessi
  • X-EDS Informazioni composizionali qualitative e quantitative su elementi con Z 6

Link interessanti

Downloads

  • Documentazione tecnica

Staff Tecnico

* Massimo TonelliContatta lo Staff
Mauro Zapparoli
Cinzia Restani

*: Responsabile del Laboratorio