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SEMFEG

SEM Nova NanoSEM 450

Microscopio Elettronico a Scansione Nova NanoSEM 450 Icona pdf

Ditta Produttrice: Fei Company  - Bruker corporation  | Data di installazione: 2013  | Sigla dello Strumento: SEMFEG

Configurazione Strumentale
  • Rivelatore In-lens SE detector (TLD-SE) [ High Vacuum e Low Vacuum]
  • Rivelatore In-lens BSE detector (TLD-BSE) [ High Vacuum e Low Vacuum]
  • Rivelatore TV-rate low vacuum solid-state BSED (GAD)
  • Rivelatore Retractable DBS
  • Rivelatore STEM [Tem-mode]
  • Rivelatore IR-CCD
  • Rivelatore EBIC (6-Channel Detector Amplifier)
  • Portacampioni multiplo con sistema di navigazione Nav Cam
  • Catodoluminescenza CLD KE stand-alone Centaurus Icona pdf
    • Detector 185-850nm
    • Detector 300-650nm
  • Sistema per microanalisi X-EDS Bruker QUANTAX-200 Icona pdf
    • detector Xflash 6, 10mm2, 126eV
    • Analisi qualitative e quantitative
    • Mapping
    • Line&Grids
  • Sistema per analisi cristallografiche EBSD Bruker QC-200 i Icona pdf
    • EBSD Detector-Bruker e- Flash1000
    • Software con Quantax ICSD database

     

Applicazioni

Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione sia in campo biologico che nella scienza dei materiali ogni qualvolta si renda necessario visualizzare strutture a forte ingrandimento (si possono ottenere risoluzioni anche inferiori ad 1 nm). Particolarmente importante, soprattutto nel campo delle scienze dei materiali, è la possibilità di effettuare analisi composizionale con risoluzione spaziale dell'ordine del micron.

  • Industria biomedicale
  • Problematiche ambientali
  • Semiconduttori, campioni ceramici e metallici
  • Industria alimentare

Tecniche disponibili

  • SED Informazioni prevalentemente morfologiche - in tutte le modalità di vuoto
  • BSE Informazioni prevalentemente composizionali - in tutte le modalità di vuoto
  • X-EDS Informazioni composizionali qualitative e quantitative su elementi con Z >8
  • EBSD Identificazione delle fasi presenti nei materiali cristallini
  • CATODOLUMINESCENZA informazioni sulle proprietà fisiche dei materiali attraverso la raccolta di fotoni emessi
  • EBIC analisi morfologica dipendente dalle caratteristiche elettriche di campioni conduttori/semiconduttori

Link interessanti

Downloads

  • Documentazione tecnica

Staff Tecnico

* Massimo TonelliContatta lo Staff
Mauro Zapparoli
Mariangela Governatori

*: Responsabile del Laboratorio