La tecnica di diffrazione delle polveri comprende essenzialmente un fascio ristretto di raggi X monocromatici, incidenti su una polvere cristallina composta di fini particelle orientate casualmente. A queste particolari condizioni, verranno generati raggi diffratti dalle serie di piani con distanza interplanari d(hkl) delle (n) fasi del sistema investigato secondo le condizioni geometriche dettate dalla legge di Bragg ed imposte dalle condizioni strumentali (lunghezza d'onda usata). Il risultante spettro di diffrazione di un cristallo, comprendente sia le posizioni che le intensità degli effetti della diffrazione, è una proprietà fisica fondamentale della sostanza, utile non solo per una sua rapida identificazione ma anche per una completa interpretazione della sua struttura. Fra le altre cose, nuovi e fondamentali impulsi vengono anche dall'applicazione di questa tecnica allo studio e caratterizzazione di materiali al di fuori delle loro condizioni di stabilità come ad esempio gli studi delle trasformazioni delle fasi cristalline ad alta temperatura ed alta pressione.

La diffrattometria a raggi X si basa essenzialmente sulla legge di Bragg: 2dhklsenΘ = n*λ, dove dhkl è la distanza reticolare del piano con indici cristallografici hkl della fase in esame, Θ è l'angolo per cui il piano con indici hkl è in condizioni di diffrazione, λ è la lunghezza d'onda della radiazione utilizzata. Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione su diverse tipologie di campioni che spaziano da campioni mineralogici, metallici, polimerici, etc.

Permette il riconoscimento di fasi cristalline (analisi qualitativa) con la possibilità di utilizzare metodi Rietveld per ottenere dati quantitativi. La tecnica può essere utilizzata su sistemi monofase per la determinazione delle dimensioni dei grani.

• Campioni mineralogici
• Materiali semiconduttori
• Campioni ceramici e metallici
• Beni culturali
• Trattamenti superficiali e film sottili
• Principi attivi e i Eccipienti farmaceutici

• Spettri XRD 0,1,2 D su polveri e su campioni massivi con dimensioni massime di 100x100x10 mm
• Misure di tessiture, stress e su film sottili
• Sample changer automatico per alloggiare fino a 15 campioni e lanciare misure sequenziali
• Camera calda HTK1200, per misure ad alta temperatura su materiali in polveri e/o massivi purchè sia possibile inserirli nella vaschetta portacampione di forma circolare con diametro di 10 mm e spessore 1 mm
• Misure in riflessione e trasmissione con portacampioni spinner e misure in capillare

*: Responsabile del Laboratorio