La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione (~100 A) mediante scansione di un fascio di elettroni in una piccola area del campione in esame. Tutti gli effetti che si producono nel punto di impatto del fascio possono essere utilizzati, tramite appositi rivelatori, per produrre contrasto, quindi l'immagine. Inoltre l'analisi dei raggi X prodotti permette di effettuare analisi composizionale ad alta risoluzione spaziale (microanalisi).

Si tratta di una tecnica molto generale che trova applicazione sia in campo biologico che nella scienza dei materiali ogni qualvolta si renda necessario visualizzare strutture a forte ingrandimento (da 10x a 100.000x). Particolarmente importante, soprattutto nel campo delle scienze dei materiali, è la possibilità di effettuare una analisi composizionale con risoluzione spaziale dell'ordine del micron.

Industria biomedicale

Problematiche ambientali

Semiconduttori, campioni ceramici e metallici

Industria alimentare

• SED Informazioni prevalentemente morfologiche
• BSE Informazioni prevalentemente composizionali
• X-EDS Informazioni composizionali qualitative e quantitative su elementi con Z >8
• Possibilità di acquisire ed elaborare immagini relative alla distribuzione di elementi all'interno di un'area (mappe)

*: Responsabile del Laboratorio